ФНС · на 2026-04-27
- - для проверки полупроводниковых пластин или устройств (включая интегральные схемы) или для проверки фотомасок или фотошаблонов, используемых в производстве полупроводниковых приборов (включая интег
Данные актуальны на 27 апреля 2026 г.
ФНС и текущая редакция ЕЭК содержат разные формулировки. Обе версии показаны ниже; окончательная формулировка не выбрана без предметного решения.
Сервис не выбирает одну версию молча. Для окончательного вывода требуется предметная проверка.
ФНС · на 2026-04-27
- - для проверки полупроводниковых пластин или устройств (включая интегральные схемы) или для проверки фотомасок или фотошаблонов, используемых в производстве полупроводниковых приборов (включая интег
ЕЭК · на 2026-07-01
– – для проверки полупроводниковых пластин или устройств (включая интегральные схемы) или для проверки фотомасок или фотошаблонов, используемых в производстве полупроводниковых приборов (включая интегральные схемы)
В текущей редакции классификатора дочерних позиций нет.
| Код | Уровень | Наименование |
|---|---|---|
| 90 | 2 | ИНСТРУМЕНТЫ И АППАРАТЫ ОПТИЧЕСКИЕ, ФОТОГРАФИЧЕСКИЕ, КИНЕМАТОГРАФИЧЕСКИЕ, ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ, КОНТРОЛЬНЫЕ, ПРЕЦИЗИОННЫЕ, МЕДИЦИНСКИЕ ИЛИ ХИРУРГИЧЕСКИЕ; ИХ ЧАСТИ И ПРИНАДЛЕЖНОСТИ |
| 9031 | 4 | ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ИЛИ КОНТРОЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ, УСТРОЙСТВА И МАШИНЫ, В ДРУГОМ МЕСТЕ ДАННОЙ ГРУППЫ НЕ ПОИМЕНОВАННЫЕ ИЛИ НЕ ВКЛЮЧЕННЫЕ; ПРОЕКТОРЫ ПРОФИЛЬНЫЕ |
| 9031410000 | 10 | - - для проверки полупроводниковых пластин или устройств (включая интегральные схемы) или для проверки фотомасок или фотошаблонов, используемых в производстве полупроводниковых приборов (включая интег |
Отзыв попадёт в очередь проверки. Он никогда не изменяет ТН ВЭД автоматически.